Bettersize S3 Plus 雷射圖像粒徑分析儀


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型號:Bettersize S3 Plus

介紹

Bettersize S3 plus雷射圖像粒徑分析儀是一種雷射結合圖像二合一的粒徑分析系統。它的雷射散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統,成像系統為動態雙路遠心顯微成像系統,可同步進行粒徑和粒子形狀分析,徹底實現一機兩用。

特色

  • 斜入射雙鏡頭技術(DLOIOS)
  • 樣品折射率測試技術
  • 自動循環分散與自動測試技術
  • 顯微圖像與雷射散射二合一技術:雷射法測試細顆粒具有優勢,圖像法測試粗顆粒準確度較高,採用雷射與圖像二合一的方式,得到結果準確性更高,同時可進行粒形分析

規格

  • 雷射散射系統

測量範圍

0.01 – 3500 um

進樣方式

自動循環分散系統

重複性誤差

 0.5%

準確性誤差

 0.5%

折射率測量範圍

1.4 – 3.6

測量原理

米氏散射

測量方式

自動測量(SOP)

最快測量時間

 10

雷射光源

10 mW/ 532 nm

光路系統

斜入射雙鏡頭光路系統

操作系統

Win7/Win10

接口方式

USB 2.0/3.0

光電探測器

96

超音波功率

50W

循環槽容積

600 ml

循環流量

3000-8000 ml/min

產品複配

A*x% + B*(1-x%) = C

電壓

AC220V 50/60 Hz

主機體積

820 x 610 x 290 mm

主機重量

48 kg


  • 顯微圖像系統

圖像分析範圍

2 – 3500 um

圖像辨識速率

120/

放大倍數

20 / 400

顆粒辨識速度

10000個顆粒/分鐘

分析項目

粒徑分佈、最大粒徑、長徑比、圓形度等


製造商