掃描圖像粒徑粒形分析系統
Image Scanning Particle Size and Shape Analyzer

型號:BeVision M1

產品介紹

BeVision M1系統透過優化提供快速、準確和精準的操作。軟體和硬體皆為此目的被選用來降低複雜度以及提高數據量。由顯微鏡、數位相機、電動載物台、控制器和樣品固定裝置組成的系統,能滿足您對於光學分辨率、亮度和數據量的需求。
BeVision M1採用多種實用的軟硬體技術,包含全自動三維均速運動系統、自動對焦系統、全景圖像無縫合成技術、大顆粒提取分析系統等。

產品規格

型號 BeVision M1
測量範圍 1-10000µm
放大倍數 30-1000倍
重複性誤差 ≤1%(GBRM D50)
精確性誤差 ≤1%(GBRM D50)
顆粒辨別速度 ≧10000個/分鐘
高速CCD 120幀/秒
掃瞄範圍 直徑為55mm
測量時間 ≦10分鐘
漏檢率 ≦3%(10µm以上顆粒無漏檢)
金屬顆粒識別準確率 >90%
纖維顆粒識別準確率 >90%
  • BeVision M1

製造商

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