乾濕法圖像粒徑粒形分析系統
Dynamic Image Particle Analyzer for Dry and Wet Analysis

型號:BeVision D2

產品介紹

BeVison D2 乾法圖像粒徑粒形分析系統適用於粗顆粒的分析領域,採用電磁震動加料系統,高亮度LED陣列光源與高速CCD等硬體技術,在顆粒自由落體過程中隨機拍攝通過鏡頭的顆粒圖像,同時電腦軟體開始進行快速的顆粒識別與處理,在螢幕上顯示每個顆粒的圖像與粒徑粒形數據。
由於採用每秒高達100幀的高速CCD,每分鐘能拍攝並處理數萬個顆粒,並且圖像處理系統能自動判斷並無縫拼接顆粒,使顆粒圖像的分析速度、精確度、和準確性大幅提升。

產品規格

型號 BeVision D2
測量範圍 濕法:2µm至3500µm
乾法:30µm至10000µm
放大倍數 9-300 倍
重複性誤差 ≤1%(GBRM D50)
精確性誤差 ≤1%(GBRM D50)
高速CCD 成像速度120幀/秒
測量速度 ≥10000pcs/ min
分析 (1)粒徑:粒徑分佈,典型值,最大粒徑,
特定間隔的含量,小於或大於確定粒徑的含量
(2)顆粒形狀:長寬比,圓度,顆粒形狀等
  • BeVision D2

製造商

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